chipmaster compact professional digital ic tester operator's manual
Contents
1. vom Hauptmen ausgew hlt schaltet es sich selbst ndig ab um das Leben der Batterien zu verl ngern Wird das Ger t eingeschaltet so f hrt es zun chst eine Selbstdiagnose durch Daher pr fen Sie vor dem Einschalten ob der Testsockel leer ist um St rungen der Diagnose zu vermeiden Besteht das Ger t die Selbstdiagnose erscheint folgende Anzeige NO MODE Single RDY Wenn diese erste Anzeige erscheint ist der ChipMaster Compact zur Benutzung bereit Sollte allerdings die Nachricht SELF TEST FAIL zusammen mit einer Fehlermeldung erscheinen so bedeutet dies dass ein Selbstdiagnose Fehler entdeckt wurde Alle gefundenen Fehler werden k rz angezeigt bevor zu dem oben gezeigten Men zur ckgekehrt wird doch nat rlich wird dann die Qualit t weiterer Tests Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 10 ChipMaster Compact Digital IC Tester zweifelhaft sein Bevor Sie sich an ihren Vertreter wenden stellen Sie sicher dass der Testsockel komplett leer ist 19 Betriebsarten Der ChipMaster Compact verf gt ber verschiedene Testarten zwischen denen man innerhalb des Startmen s mittels der MODE CLEAR Taste w hlen kann Es gibt folgende Testarten Single f hrt einen einzelnen Test des ICs durch Loop wiederholter Test unabh ngig von dem Ergebnis PLoop wiederholter Test solange das Ergebnis gut ist FLoop wiederholter Test solange das Ergebnis schlecht ist Search identifiziert d2. test en continu mode de recherche mode test de d marrage CompactLink mode specifications IC support list IC Liste Liste des Cl soutenus introduction Einf hrung introduction series 54 74 TTL ICs CMOS ICs memory ICs interface peripheral microprocessor and LSI ICs notes on TTL ICs notes on CMOS ICs notes on memory ICs Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited 15 16 16 17 18 18 19 19 20 20 21 21 23 23 24 24 25 26 27 27 27 29 30 31 33 33 34 43 9 43 10 43 11 43 12 43 13 43 14 43 15 43 16 43 17 ChipMaster Compact Digital IC Tester notes on interface ICs Anmerkungen f r TTL ICs Anmerkungen f r CMOS ICs Anmerkungen f r Memory ICs Anmerkungen f r Interface ICs notes sur CI TTL Note sur CMOS Cl note sur memoire Cl notes sur interface Cl Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited 34 35 35 35 36 36 37 37 37 ChipMaster Compact Digital IC Tester 1 introduction english Thank you for purchasing the ABI ChipMaster Compact Professional Digital IC Tester The basic function of the ChipMaster Compact Professional is to test a digital IC for correct logical functioning as described in the truth table and or function table The ChipMaster Compact applies the necessary signals to the inputs of the IC monitoring the outputs at each stage and comparing them with the expected states Any discrepancy results in a FAIL indication and the faulty pins are
3. 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 35 ChipMaster Compact Digital IC Tester Suchmodus nicht identifizieren weil sie den richtigen Inhalt des ICs nicht wissen Wir bitten um etwas Geduld ins Besondere mit den gr sseren EPROM ICs weil die Testzeit verh ltnism ig lang ist 43 13 Anmerkungen f r Interface ICs 7 Die MOS Version dieses ICs ist intern dynamisch und der Test kann w hrend eines wiederholten Tests durchfallen Die CMOS Version ist aber komplett statisch 8 Bei der 8742 EPROM Version dieses IC muss das Fenster bedeckt werden 9 Die 8039 und 8040 ICs m ssen im FAIL LOOP Modus getestet werden 10 Dieses IC soll nur im SINGLE Modus getestet werden mit einem 1uF Kondensator zwischen den Versorgungspins 29 und 20 des ZIF Sockels 18 und 9 des IC wegen des hohen Versorgungsstroms 11 Dieses IC soll mit einem 1uF Kondensator zwischen den Versorgungspins 10 und 31 des ZIF Sockels wegen des hohen Versorgungsstroms getestet werden 12 Dieses IC muss vielleicht im FAIL LOOP Modus getestet werden 13 Das 8251 IC ist ein 4 10 Decoder IC und soll nicht mit dem Intel 8251 USART verwechselt werden Das 8251 IC kann nicht mit dem ChipMaster Compact getestet werden 43 14 notes sur CITTL Note 1 le 7450 et 7453 CI ont des entr es non TTL tendues qui ne sont g n ralement pas utilis es en conception Note 2 Le 74LS51 et 74LS54 ont un brochage et des fonctions diff rentes des standards 7451 et 7454 C
4. 4244 4245 4373 4374 4501 4502 4506 memory ICS 4507 4508 4510 4511 4512 4514 4515 4516 4517 4518 4519 4520 4522 4526 4527 4528 3 4530 4531 4532 4538 3 4539 4541 4543 4544 4547 4555 4556 4557 4558 4559 4560 4561 4572 2149 1k 4 2600 64K 1 2700 256 1 2703 16 4 3101 16 4 4164 64k 1 41256 256k 1 41257 256k 1 41464 64k 4 4256 256k 1 4416 16k 4 4464 8k 8 Copyright O 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 30 4583 4584 4585 4 4599 4724 4731 40085 40097 40098 40102 40103 40104 40106 40107 40109 40160 40161 40162 40163 40174 40175 40181 40192 40193 40194 40195 40240 40244 40245 40373 40374 5029 22100 ChipMaster Compact Digital IC Tester 4532 32K 1 5 2716 2k 8 EPROM 6 4816 16k 1 2732 4K 8 EPROM 6 5110 1024k 1 2764 8K 8 EPROM 6 5256 256k 4 27128 16K 8 EPROM 6 5516 2k 8 27256 32K 8 EPROM 6 5517 2k 8 27512 64K 8 EPROM 6 5518 2k 8 27101 128K 8 EPROM 6 6104 4K 1 271001 128K 8 EPROM 6 6116 2k 8 1410 256 4 PROM 6 6167 16k 1 1822 256 8 PROM 6 62256 32k 8 1830 32 8 PROM 6 6264 8k 8 1842 512 8 PROM 6 6810 128 8 1846 512 8 PROM 6 7164 16k 4 74188 32 8 PROM 6 7185 8k 8 74287 256 4 PROM 6 7186 8k 8 74288 32 8 PROM 6 7489 16 4 74387 256 4 PROM 6 74189 16 4 74470 256 8 PROM 6 74200 256 1 74471 256 8 PROM 6 74201 256 1 74472 512 8 PROM 6 74289 16 4 744
5. Auflistung der vom Chipmaster Compact unterst tzten ICs Sollten f r einen bestimmten IC besondere Anforderungen gelten verweist ein Zahl in Klammern auf eine bestimmte Anmerkung am Ende dieser Bedienungsanleitung Konsultieren Sie diese Liste immer bevor Sie einen IC das erste Mal testen vor allem dann wenn diesem IC eine Bemerkung zugeordnet ist Bitte merken Sie dass die aktuelle Version der Software bei www abielectronics co uk vorhanden ist Cette section comprend une liste compl te des CI soutenus par le ChipMaster Compact Si des conditions particuli res sont requises pour un Cl en particulier un num ro entre parenth ses vous enverra vers des notes la fin de ce manuel Veuillez noter que notre derni re version logicielle pour les ChipMaster Compact Professional sont en ligne sur notre site web www abielectronics co uk 43 2 series 54 74 TTL ICs 7400 7410 7420 7431 7401 7411 7421 7432 7402 7412 7422 7433 7403 7413 7423 7437 7404 7414 7424 7438 7405 7415 7425 7439 7406 7416 7426 7440 7407 7417 7427 7442 7408 7418 7428 7443 7409 7419 7430 7444 Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 27 7445 7446 7447 7448 7449 7450 1 7451 2 7453 1 7454 2 7455 7456 7457 7460 7464 7465 7470 7472 7473 7474 7475 7476 7477 7478 7480 7482 7483 7485 7486 2 7489 7490 7491 7492 7493 7494 7495 7496 7497 74100 74104 74105 74107 74109 74110 74111 74112 74113 74114 74116 Chip
6. Sie wieder die TEST EXEC Taste Um ein unterschiedliches IC zu testen geben Sie auf dem blichen Wege die neue IC Nummer ein Beachten Sie dass die Eingabe der ersten Ziffer der neuen Nummer die vorige Nummer automatisch von der Anzeige l scht Wieder kann die MODE CLEAR Taste benutzt werden falls es zu einem Fehler w hrend der Eingabe kommt 24 Fortlaufendes Testen Es ist m glich das gleiche IC wiederholt zu testen um es auf intermittierende oder temperaturabh ngige Fehler zu testen oder um eine gr ere Menge identischer ICs in sehr kurzer Zeit zu testen Es gibt drei Arten dieser Testschleifen Loop wiederholt einen Test unabh ngig von dem Ergebnis immer wieder durch PLoop wiederholt einen Test immer wieder solange das Ergebnis PASS gut lautet FLoop wiederholt einen Test immer wieder solange das Ergebnis FAIL schlecht lautet Der ChipMaster Compact wird wie oben beschrieben mit der MODE CLEAR Taste auf einen der LOOP Modi eingestellt Legen Sie das IC ein und dr cken Sie die TEST EXEC Taste um das fortlaufende Testverfahren zu starten Das Ergebnis jedes Tests wird als PASS oder FAIL oben rechts auf dem Display angezeigt Im LOOP Modus erm glicht dies den Test einer gro en Anzahl identischer ICs ohne Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 14 ChipMaster Compact Digital IC Tester dass der Benutzer etwas anderes tun muss als die ICs einzulegen Nachdem das IC eingelegt
7. arr ter n importe quelle boucle de test appuyez sur CLEAR Veuillez noter que le test en progr s terminera avant que la commande soit ob i En g n ral l effet d arr ter la boucle est peu notable mais si le test dure assez longtemps il y aura un d lai avant que le dispositif r ponde la touche CLEAR Note Tester un Cl en boucle puise les piles tr s rapidement Il est recommende d utiliser l liminateur de piles pour ce type de test Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 23 ChipMaster Compact Digital IC Tester 39 mode de recherche Cette charact ristique permet de d terminer le num ro d un CI inconnu si le CI est inclu dans le biblioth que du Chipmaster Compact et si le Cl est fonctionnel Ceci est particuli rement utile quand le num ro du Cl n est pas lisible ou n est pas pr sent Utilisez la touche MODE CLEAR choisissez le mode SEARCH ins rez le CI inconnu dans le socle et appuyez sur la touche TEST EXEC ChipMaster demandera le nombre de pattes du Cl a identifier Veuillez utiliser la touche MODE CLEAR pour choisir entre 8 et 40 pattes ou appuyez sur QUIT pour sortir de ce mode Appuyez sur TEST EXEC encore une fois pour commencer la recherche SEARCH ou pour quitter Pendant le processus d identification l cran affichera le num ro des Cl identifi s IDENT et montrera le progr s sur un graphique A la fin de la recherche une liste de tous les Cl identiques d filera sur l cr
8. benutzt TTL Logikpegel w hrend es die Reaktionen der IC Ausg nge auswertet Reagieren alle Ausg nge Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 12 ChipMaster Compact Digital IC Tester korrekt wird oben rechts auf dem Display das Ergebnis PASS angezeigt Eine rollende Nachricht enth lt sowohl die IC Funktion als auch die Versorgungspin Information Wird ein Kurzschluss zwischen den Stromversorgungspins des getesten ICs entdeckt erscheint oben rechts auf dem Display die Warnung SHT und das Ergebnis wird FAIL schlecht weil kein g ltiger Test m glich ist Wenn das getestete IC beim Stromeinschalten einen berm igen Stromverbrauch hat erscheint oben rechts auf dem Display die Warnung ICC Dr cken Sie die TEST EXEC Taste um mit dem Test fortzufahren oder die CLEAR Taste um den Vorgang abzubrechen Abh ngig vom Zustand der Batterien kann auch die Warnung BAT erscheinen Dies bedeutet dass die Batterien nicht in der Lage sind die von dem getesteten IC ben tigte Energie zu liefern Durch dr cken der TEST EXEC Taste k nnen Sie mit dem Test fortfahren doch es k nnte zu Funktionsst rungen des Ger tes aufgrund von zu geringer Batteriespannung kommen Wechseln Sie die Batterien oder benutzen Sie ein externes Netzteil Beachten Sie dass ein fehlerhafter IC mehr Strom verbrauchen kann und dadurch schnell die Batterien verbraucht Im Falle des Ergebnisses FAIL werden die Logikfehler an allen
9. cessaire de tester ce Cl avec le mode FAIL LOOP Note 13 Le C I 8251 est un D codeur 4 10 lignes et ne doit pas tre confondu avec le 8251 USART d INTEL qui ne peut pas tre test par le ChipMaster Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 38
10. deuxi me pour le tableau haut Veuillez consulter les caract ristiques techniques Note 6 Les tests EPROM x cutent un blankcheck et checksum sur le CI et montrent le contenu des 16 premi res locations Ces tests ne peuvent pas confirmer l integrit du Cl ou l identifier en mode SEARCH puisque qu ils n ont pas informations sur le contenu de l EPROM Soyez patient pendant le test d une EPROM les mod les les plus grands mettent un certain temps 43 17 notes sur interface CI Note 7 La version MOS de ce Cl est int rieurement dynamique et il est possible que le test montre un FAIL dans le mode LOOP prolong Cependant le version CMOS est totalement statique Note 8 le version 8742 EPROM de ce Cl doit avoir le panneau en verre couvert sinon le test montrera FAIL Note 9 le 8039 et 8040 CI doivent tre test s dans la mode FAIL LOOP du au fait que la proc dure de mise hors tension affecte la synchronisation des testeurs Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 37 ChipMaster Compact Digital IC Tester Note 10 Ce Cl doit seulement tre test en SINGLE MODE avec un CONDENSATEUR de 1uF de d couplage connect entre les broches de voltage et de terre 18 et 19 du socle ZIF du a son besoin en haut courant Note 11 Ce Cl a besoin d un CONDENSATEUR de d couplage de 1uF connect entre les broches de voltage et de terre 10 et 31 du socle ZIF du a son besoin en haut courant Note 12 Il est peut tre n
11. es du CI et la tension logique de sortie est mesur e Le dispositif utilise les niveaux de logique TTL ou CMOS selon le CI s lectionn quand il value le tension de sortie du CI Si toutes les tensions de sortie sont correctes le dispositif affichera PASS sur l cran Un message d filant d crira la fonction du Cl et les pattes de puissance Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 21 ChipMaster Compact Digital IC Tester Si un court circuit entre les pattes de puissance est d tect le message SHT apparaitra en haut droite de l cran et puisque un test valide n est pas possible le r sultat sera FAIL Si lors de l application du test le Cl re oit trop de courant un message ICC apara tera sur l cran Pour continuer le test appuyez sur la touche TEST EXEC ou pour abandonner appuyez sur CLEAR Selon l tat des piles un message BAT peut apparaitre pour indiquer que les piles ne sont pas capables de fournir le courant n ccesaire pour le test Vous pouvez continuer le test en appuyant sur TEST EXEC mais le dispositif risque de malfonctionner cause de la chute de tension des piles Pour viter ce probl me changez les piles ou utilisez un liminateur de piles Veuillez noter qu un Cl d fecteux n ccesitera plus de tension ainsi r duissant la dur e de vie des piles Dans le cas d un r sultat FAIL les erreurs sur toutes les pattes d fectueuses seront affich es en d f
12. low a low battery warning symbol Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 1 ChipMaster Compact Digital IC Tester will be displayed at the top left hand cell of the display in normal operating mode A low battery warning will also be displayed during a result display Test results may be inconsistent under these conditions 3 battery eliminator An external battery eliminator is available for prolonged use of the ChipMaster Compact Many bipolar LSI ICs consume a large amount of current when powered up and battery life can be conserved by using the eliminator There is no need to remove the batteries prior to inserting the battery eliminator However please note that during prolonged periods of non use batteries are prone to leakage and should be removed Note that to avoid damage to the unit we strongly advise that you only use the recommended battery eliminator that is available by contacting your distributor Note that using an incorrect battery eliminator voltage may damage the unit and invalidate the warranty 4 switching on To switch the unit on simply press the ON key To preserve battery life the unit powers itself off after approximately 3 minutes of non use or when Sw Off is selected from the main menu When the unit is switched on it first performs a self diagnosis test Therefore before switching on check that the test socket is empty to prevent interference with the diagnostics If the unit passe
13. shown on the integral display Additional facilities are also provided amongst them test loops that can be used for goods inwards inspection detecting intermittent faults or simply providing a rapid method of exercising any IC for demonstration or educational purposes Since the ChipMaster Compact contains an extensive IC library it is not necessary to program the unit yourself other than to key in the IC number It is also capable of identifying an unknown IC using the SEARCH mode this is a feature that many users will find extremely valuable The ChipMaster Compact Professional is provided with an RS 232 interface enabling it to be connected to a companion software package called CompactLink running on a PC CompactLink allows test programmes for ICs not included in the internal library to be developed and downloaded into the ChipMaster Compact memory to enhance the library according to your wishes 2 DC iinput The ChipMaster Compact is powered by four AA batteries or by the use of the battery eliminator input at the rear of the case To insert the batteries turn the unit upside down and remove the battery cover by removing the two cross head screws holding it in place The batteries must be inserted in the correct orientation as indicated by the drawing within the battery compartment Incorrect insertion of batteries will not allow the unit to operate Replace the battery cover and insert the screws lf the battery voltage falls too
14. test repeatedly provided the result was FAIL The ChipMaster Compact is configured into one of the loop modes using the MODE CLEAR key as described earlier Insert the IC and press TEST EXEC in the usual way to start the continuous test process The result of each test is displayed as PASS or FAIL on the top right of the display In LOOP mode this allows a large batch of identical ICs to be tested without any action on the part of the operator other than inserting the IC When the IC is inserted sufficient time must be allowed for the test to take place before the result status is updated so if in doubt the IC should be tested in single mode so that the approximate test time can be determined It will be found that high throughput can be obtained using this mode To stop any of the test loops press MODE CLEAR but note that the test in progress is completed before the command is obeyed The effect of this is usually unnoticeable but where the test takes a reasonable time to execute there will be a delay before the instrument responds to the MODE CLEAR key Note Testing high current ICs in loop mode will drain the batteries quickly and it is recommended that a battery eliminator is used if you wish to perform loop tests 11 search mode This feature allows the type number of an unknown IC to be determined provided the IC is actually contained in the ChipMaster Compact library and it is a correctly functioning IC This facility is us
15. 289 252521 3486 8755 6 252536 3487 252568 MISCELLANEOUS 252569 Z80 SERIES 1005 2610 780 Z80 CPU 1006 Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 32 ChipMaster Compact Digital IC Tester 1489 8160 9328 384 8230 9338 491 8252 9347 492 8262 9348 5452 8277 9614 54563 8641 9640 54564 9014 9641 58167 9301 9901 6595 9309 9902 10 7641 9312 9995 11 8131 9314 8136 9324 43 6 notes on TTL ICs Note 1 The 7450 and 7453 ICs have non TTL compatible expander inputs that are often not used in designs These inputs are not tested Note 2 The 74LS51 and 74LS54 have differing pin connections and functions from the standard 7451 and 7454 ICs The test assumes that the LS version is being tested to test the standard version use the numbers 7450 and 7453 respectively In addition the 74L86 IC has a different pin out to the standard 7486 ICs but it can be tested using the 74386 test Note 3 When testing these ICs the warning EXT will appear on the LCD display This means that external timing components are required to test the IC The timing components should be inserted into the socket as given in following table COMPONENTS 74122 74422 2 2uF between pins 24 and 26 of the ZIF socket ve to pin 26 74123 74423 2 2uF between pins 18 and 19 of the ZIF socket ve to pin 19 2 2uF between pins 27 and 26 of the ZIF socket ve to pin 27 4528 4538 4098 O 22uF between pins 13 and 14 of the ZIF socket 0 22uF between pins 2
16. 667 741004 74426 74569 74668 741005 74436 74573 74669 741008 74437 74574 74670 741010 74440 74576 74671 741011 74441 74580 74672 741020 74442 74590 74682 741032 74443 74591 74683 741035 74444 74592 74684 741240 74445 74593 74685 741241 74446 74595 74688 741242 74447 74596 74689 741243 74448 74597 74690 741244 74449 74604 74691 741245 74465 74605 74692 741620 74466 74606 74693 741621 74467 74607 74696 741622 74468 74620 74697 741623 74470 6 74621 74698 741638 74471 6 74622 74699 741639 74472 6 74623 74760 741640 74473 6 74638 74804 741641 74474 74639 74805 741642 74475 74640 74808 741643 74490 74641 74832 741644 74518 74642 74867 741645 74519 74643 75869 43 3 CMOS ICs Note 74C HC HCT ICs are listed in the TTL section 4000 4008 4013 4018 4001 4009 4014 4019 4002 4010 4015 4020 4006 4011 4016 4021 4007 4012 4017 4022 Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 29 4023 4024 4025 4026 4027 4028 4029 4030 4031 4032 4035 4038 4040 4041 4042 4043 4044 4049 4050 4051 4052 4053 4056 4060 4063 4066 4067 4068 4069 4070 4071 4072 4073 1220 1403 2015 2016 2102 2111 2112 2114 2141 2142 2147 2148 43 4 2K 8 16k 1 2k 8 2k 8 1k 1 256 4 256 4 1k 4 4k 1 1k 4 4k 1 1k 4 ChipMaster Compact Digital IC Tester 4075 4076 4077 4078 4081 4082 4085 4086 4089 4093 4094 4098 3 4099 4104 4106 4160 4161 4162 4163 4174 4175 4192 4193 4194 4195 4240
17. 7 and 26 of the ZIF socket 43 7 notes on CMOS ICs Note 4 Certain differences exist between manufacturers parts with this IC which may cause a FAIL result with ICs other than Motorola MC14585 ICs Consult the data sheets for full details Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 33 ChipMaster Compact Digital IC Tester 43 8 notes on memory ICs Note 5 The 4532 32k DRAM is in fact a partially non functional 64k DRAM Four types exist manufactured by OKI and TI who each supply two types The type numbers 45321 and 45322 are used for OKI types and 45323 and 45324 are used for Tl types The first number in each case is for the low array version and the second number for the high array version See the IC data sheets for further details Note 6 The ROM EPROM tests perform a blank check and checksum on the IC and display the contents of the first 16 locations These tests cannot confirm the integrity of an IC or identify it in SEARCH mode since they have no knowledge of the intended contents of the EPROM Please be patient when testing EPROMs in this way some of the larger ICs take a long time to read 43 9 notes on interface ICs Note 7 The MOS version of this IC is internally dynamic and the test may FAIL after a prolonged in circuit LOOP test The CMOS version however is completely static Note 8 The 8742 EPROM version of this IC must have the erase window covered otherwise the test may FAIL Note 9 Th
18. 73 512 8 PROM 6 74300 256 1 74474 512 8 PROM 6 74301 256 1 74475 512 8 PROM 6 74929 1k 1 8225 16 4 43 5 interface peripheral microprocessor and LSI ICs 75 SERIES 75163 75453 75113 75172 75454 75114 75173 75465 75121 75174 75466 75122 75175 75468 75123 75183 75469 75124 75189 75476 75125 75192 75477 75127 75194 75478 75128 75195 75479 75129 75401 75491 75136 75402 75492 75138 75403 75146 75404 ULN2 SERIES 75151 75416 2001 75153 75417 2003 75158 75418 2004 75159 75419 2005 75160 75451 2064 75161 75452 2065 Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 31 ChipMaster Compact Digital IC Tester 2066 2611 8400 Z80 CPU 2067 2631 8420 Z80 PIO 2068 2632 8430 Z80 CTC 2069 2633 8440 Z80 SIO 2070 2901 8442 Z80 SIO 2 2902 8470 Z80 DART DS88 SERIES 2907 8815 2908 MC65 SERIES 8830 2911 6502 8831 2918 6510 8837 2922 6520 8838 2924 6522 8881 29821 6545 8885 29822 6551 29823 8T SERIES 29824 INTEL SERIES 8T13 use 813 29825 8031 8T14 use 814 29826 8032 8T23 etc 29841 8039 9 8T24 29842 8040 9 8T26 29843 8042 8 8T28 29844 8085 8T38 29845 8088 7 8T97 29846 8155 8T98 8156 8T127 MC68 SERIES 8212 8T128 6800 8216 8T129 6802 8226 6805 12 8228 82 SERIES 6818 8237 8234 6820 8243 8251 13 6821 8250 8266 6845 8253 8273 6850 8254 6880 8255 25 26 29 SERIES 6887 8259 2510 6888 8279 2514 6889 8282 2515 68681 8283 2518 8286 2522 MC34 SERIES 8287 2595 3438 8288 252517 3446 8
19. ChipMaster Compact fonctionne avec quatre piles AA LR6 1 5V ou avec l liminateur de piles connect l arri re du boitier Pour ins rer les piles mettez le dispositif l envers Pour retirer le couvercle des piles enlevez les deux vis cruciformes Ins rez les piles dans le bon sens comme indiqu par le connecteur polaris Si les piles ne sont pas Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 18 ChipMaster Compact Digital IC Tester correctement inser es le dispositif peut tre endommag Remettez le couvercle des piles et les vis Si la tension offerte par les piles est trop faible le dispositif affichera un message d alerte en haut a gauche de l cran en mode d op ration normale Dans ce cas les r sultats obtenus peuvent tre rron s 31 liminateur de piles Pour l usage prolong du ChipMaster Compact nous conseillons l usage d un liminateur de piles externe Beaucoup de Cl LSI bipolaire consomme une quantit importante de courant et par cons quent l usage de l liminateur de pile permet d augmenter la dur e de vie des piles Il n est pas n cessaire d enlever les piles pour utiliser l liminateur Veuillez noter que pendant des p riodes prolong es sans utilisation les piles peuvent fuir et doivent tre retir es Pour viter toute d gradation de votre appareil il est conseill de n utiliser que l liminateur de piles recommend disponible chez votre distributeur Veuillez noter qu
20. E ChipMaster Compact Digital IC Tester abi CHIPMASTER COMPACT PROFESSIONAL DIGITAL IC TESTER OPERATOR S MANUAL CHIPMASTER COMPACT PROFESSIONELL DIGITALER IC TESTER BEDIENUNGSANLEITUNG CHIPMASTER COMPACT PROFESSIONNEL TESTEUR DIGITALE DE Cl MANUEL D UTILISATION Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited DEN 207 DER G0 NO Ee 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 ChipMaster Compact Digital IC Tester CONTENTS introduction english DC input battery eliminator switching on operating modes entering test numbers testing the IC test results testing further ICs continuous testing search mode self test mode CompactLink mode specifications Einf hrung deutsch Stromversorgung Netzteil Einschalten Betriebsarten Eingabe der IC Nummern Testen des ICs Testergebnisse Testen weiterer ICs Fortlaufendes Testen Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited ON NO OO TV RA A OONN oO 0 10 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 43 1 43 2 43 8 43 4 43 5 43 6 43 7 43 8 ChipMaster Compact Digital IC Tester Suchmodus Selbstdiagnosemodus CompactLink Modus Spezifikation introduction francais alimentation continue DC liminateur de piles mise sous tension modes d operation introduction des num ros de Cl test d un Cl r sultats test de plusieurs Ol
21. Ger t nicht funktionieren Setzen Sie nun die Batterieklappe wieder auf und verschrauben Sie diese Sobald die Spannung der Batterien zu niedrig Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 9 ChipMaster Compact Digital IC Tester f llt erscheint in normalem Betriebszustand ein Warnsymbol oben links im Display Auch w hrend Testergebnisse auf dem Display erscheinen leuchtet das Warnsymbol auf Unter diesen Umst nden kann es zu unstimmigen Ergebnissen kommen 17 Netzteil F r einen l ngeren Gebrauch des ChipMaster Compact ist ein externes Netzteil erh ltlich Viele bipolaren ICs verbrauchen verh ltnism ig viel Strom wenn sie eingeschaltet werden und die Haltbarkeit der Batterien kann durch den Gebrauch eines Netzteils verl ngert werden Es ist nicht n tig die Batterien vor dem Einsetzen des Netzteils zu entfernen Doch beachten Sie bitte dass nach l ngerer Nicht Benutzung die Batterien dazu neigen auszulaufen und daher rechtzeitig entfernt werden sollten Um Sch den an dem Ger t zu vermeiden raten wir Ihnen dringend nur das von uns empfohlene Netzteil zu benutzen das Sie ber Ihren Vertreter erwerben k nnen Beachten Sie bitte dass eine falsche Ausgangsspannung des Netzteils das Ger t besch digen kann und die Garantie nicht gew hrleistet werden kann 18 Einschalten Um das Ger t einzuschalten dr cken Sie einfach die ON Taste Wird das eingeschaltete Ger t etwa 3 Minuten nicht benutzt oder Sw Off
22. I Le test suppose que la version LS est test e pour tester les mod les standards utilisez les num ros 7450 et 7458 respectivement De plus le 74L86 a un brochage diff rent du standard 7486 mais il peut etre test en utilisant le test 74386 Note 3 Pendant le test de ce type de CI un message EXT apparaitra sur l cran Cela signifie que des signaux externes temporels Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 36 ChipMaster Compact Digital IC Tester sont requis Ces signaux doivent etre envoy s dans le socle comme d crit ci dessous COMPONENTS 74122 74422 2 2uF entre broches 24 et 26 du socle ZIF ve a broche 26 74123 74423 2 2uF entre broches 18 et 19 du socle ZIF ve a broche 19 2 2uF entre broches 27 et 26 du socle ZIF ve a broche 27 4528 4538 4098 0 22uF entre broches 13 et 14 du socle ZIF 0 22uF entre broches 27 et 26 du socle ZIF 43 15 Note sur CMOS CI Note 4 Il existe certaines differences entre fournisseurs ce qui peut provoquer un r sultat de FAIL avec un CI autre que le Motorola MC14585 ICs Veuillez consulter les caract ristiques techniques 43 16 note sur memoire Cl Note 5 Le 4532 32k DRAM est en fait un 64k DRAM partiellement non fonctionnel Fabriqu par OKI et TI chacun de ces fournisseurs fournissent deux types Les mod les 45321 et 45322 sont utilis s par OKI et 45323 et 45324 par TI Le premier num ro dans les deux cas est pour la version tableau bas et le
23. Master Compact Digital IC Tester 74118 74119 74120 74122 3 74123 3 74125 74126 74128 74132 74133 74134 74135 74136 74137 74138 74139 74140 74143 74144 74145 74147 74148 74150 74151 74152 74153 74154 74155 74156 74157 74158 74159 74160 74161 74162 74163 74164 74165 74166 74167 74168 74169 74170 74171 74173 74174 74175 74176 Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 28 74177 74178 74179 74180 74181 74182 74183 74184 74185 74188 6 74189 74190 74191 74192 74193 74194 74195 74196 74197 74198 74199 74200 74201 74224 74225 74230 74231 74237 74238 74240 74241 74242 74243 74244 74245 74246 74247 74248 74249 74251 74253 74257 74258 74259 74260 74261 74265 74266 74273 74276 74278 74279 74280 74281 74283 74284 74285 74287 6 74288 6 74289 74290 74293 74295 74298 74299 74300 74301 74322 74323 74347 74348 74350 74351 74352 74353 74354 74355 74356 74357 74363 74364 74365 74366 74367 74368 74373 74374 74375 74376 74377 74378 74379 74381 74382 74384 74385 ChipMaster Compact Digital IC Tester 74386 74520 74644 74873 74387 6 74521 74645 74874 74390 74522 74646 74876 74393 74533 74647 74878 74395 74534 74648 74879 74398 74540 74649 74880 74399 74541 74651 74906 74408 74543 74652 74907 74412 74560 74653 74929 74415 74561 74654 741000 74422 3 74563 74657 741002 74423 3 74564 74666 741003 74425 74568 74
24. Master Compact se trouve la fin de ce manuel On y trouve aussi des instructions sp ciales pour les CI particuliers Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 20 ChipMaster Compact Digital IC Tester Veuillez noter que si une biblioth que USER a t enregistr e avec CompactLink et que si un nouveau CI le m me num ro qu un Cl existant dans la biblioth que interne la biblioth que USER prendra priorit Cela permet de cr er un nouveau test pour un CI qui existe d j Si vous d sirez avoir acc s aux deux tests vous devez enregistrer le nouveau CI sous un nom diff rent 35 test d un Cl Ins rez le CI tester l avant du socle ZIF Zero Insertion Force avec la patte 1 face l cran V rifiez que le levier de commande sur le socle est ouvert avant d ins rer le CI Fermez le socle en abaissant le levier et en v rifiant que le Cl soit bien plac Appuyez sur la touche TEST EXEC afin d activer la s quence de test du CI Si un num ro invalide de Cl est entr ou si le Cl que vous d sirez tester n est pas dans la biblioth que le message unknown appara tra Entrez un autre num ro pour effacer ce message Si un num ro valide est entr le test commencera automatiquement et BUSY apparaltera sur l cran Cependant la plupart des tests tant rapides il est rare de voir ce message 36 r sultats Une s quence pr determin e de signaux est appliqu e aux entr
25. an Vous pouvez voir de nouveau la liste en appuyant sur la touche TEST EXEC S il nest pas possible d identifier le Cl le message Not in Library apparaitra Ce message veut dire que soit le Cl n est pas dans la biblioth que soit il n est pas functionnel Veuillez noter que si le dispositif re oit trop de courant ICC ou BAT le CI ne sera pas identifi dans le mode SEARCH mais peut tout de m me tre test en mode SINGLE Si une biblioth que USER est pr sente elle sera incluse dans la recherche du CI inconnu Cependant avec CompaciLink il est possible d exclure un Cl de la recherche si n cessaire 40 mode test de d marrage Ce mode vous permet de v rifier l integrit du dispositif comprenant le circuit de commande des broches l alimentation lectrique et d autres composants internes Le diagnostic s xecute automatiquement au moment d allumer le dispositif mais il est aussi possible de choisir un test de d marrage tout moment en s lectionnant le mode DIAGS en utilisant la touche MODE CLEAR et en appuyant sur TEST EXEC Si une erreur est d tect e le dispositif affichera un code pour aider nos ingenieurs trouver et corriger le d faut Vous devez noter ce code et Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 24 ChipMaster Compact Digital IC Tester le citer dans toutes vos correspondances Merci de contacter votre distributeur si le test de d marrage trouve un erreur mais premi rem
26. aste um zwischen 8 bis 40 Pins zu w hlen oder die QUIT Taste um diesen Modus zu beenden Dr cken Sie nochmals die TEST EXEC Taste um die Suche zu starten oder wenn gew nscht abzubrechen W hrend der Suche wird die Anzahl der identifizierten ICs angezeigt IDENT xx und der Fortschritt der Suche wird graphisch dargestellt Am Ende der Suche wird eine Liste von hnlichen ICs auf dem Display gerollt Diese Liste kann durch das Dr cken der TEST EXEC Taste nochmals angezeigt werden Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 15 ChipMaster Compact Digital IC Tester Kann das IC nicht identifiziert werden so erscheint die Meldung Not in Library auf dem Display Dies bedeutet entweder dass das IC nicht gelistet oder fehlerhaft ist Falls das Ger t w hrend des Tests einen hohen Strom oder schwache Batterien entdeckt ICC order BAT Warnungen wird das IC nicht identifiziert Das IC kann troztdem aber im SINGLE Modus getestet werden Wenn Sie eine Benutzer Bibliothek eingespeichert haben wird die Suche auch ICs in dieser Bibliothek identifizieren Sie k nnen jedoch nach Wunsch an Hand der CompactLink Software ICs von der Suche auschliessen 26 Selbstdiagnosemodus Diese Funktion erm glicht es Ihnen die Integrit t des Ger tes zu berpr fen einschlie lich der Aus und Eing nge Stromversorgung und anderer interner Hardware Der Test wird automatisch beim Einschalten durchgef hrt doch Sie k nnen j
27. deutet dass der Test externe R und C Komponente ben tigt Diese Komponente sollen laut der folgenden Tabelle in den Sockel eingelegt werden KOMPONENTE 74122 74422 2 2uF zwischen Pins 24 und 26 des ZIF Sockels ve beim Pin 26 74123 74423 2 2uF zwischen Pins 18 und 19 des ZIF Sockels ve beim Pin 19 2 2uF zwischen Pins 27 und 26 des ZIF Sockels ve beim Pin 27 4528 4538 4098 0 22u4F zwischen Pins 13 und 14 des ZIF Sockels 0 22uF zwischen Pins 27 und 26 des ZIF Sockels 43 11 Anmerkungen f r CMOS ICs 4 Bei diesem IC bestehen Funktionsunterschiede zwischen ICs von unterschiedlichen Herstellern die zu einem FAIL Ergebnis mit ICs von anderen Herstellern als Motorola MC14585 f hren k nnen Lesen Sie die IC Data f r weitere Informationen 43 12 Anmerkungen f r Memory ICs 5 Das 4532 32k DRAM IC ist in der Tat ein zum Teil fehlerhaftes 64k DRAM IC Vier Arten werden unterst tzt hergestellt von OKI and TI die jeweils zwei Arten liefern Die Nummern 45321 und 45322 sollen f r OKI ICs benutzt werden und 45323 und 45324 f r TI ICs In beiden F llen gilt die erste Nummer f r die Low Array Version die zweite Nummer f r die High Array Version Lesen Sie die IC Daten f r weitere Informationen 6 Die EPROM Test f hren einen Leertest und Checksumtest durch und die Daten von den ersten 16 Zellen werden angezeigt Diese Tests k nnen die Integrit t des ICs nicht best tigen und auch das IC im Copyright
28. e 8039 and 8040 ICs should be tested in FAIL LOOP mode due to the power down mode of the ICs affecting tester synchronisation Note 10 This IC should only be tested in SINGLE MODE with a 1uF decoupling CAPACITOR connected across the supply and ground pins 29 and 20 of the ZIF socket IC pins 18 and 9 due to its high supply current requirement Note 11 This IC requires a 1uF decoupling CAPACITOR to be connected across the supply and ground pins 10 and 31 of the ZIF socket due to its high supply current requirement Note 12 This IC may need to be tested in FAIL LOOP MODE Note 13 The 8251 IC is a 4 line to 10 line decoder and should not be confused with the Intel 8251 USART which cannot be tested with the ChipMaster Compact Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 34 ChipMaster Compact Digital IC Tester 43 10 Anmerkungen f r TTL ICs 1 Die 7450 und 7453 ICs haben Expander Eing nge die nicht TTL kompatibel sind Diese Eing nge werden nicht getestet 2 Die 74LS51 und 74LS54 ICs haben unterschiedliche Pin Konfigurationen von den 7451 und 7454 ICs Das Ger t nimmt an dass die LS Versionen getestet wird um die 7451 bzw 7454 Versionen zu testen benutzen Sie 7450 bzw 7453 Auch das 74L86 IC hat eine unterschiedliche Pin Konfiguration von dem 7486 IC aber es kann mit der Nummer 74386 getestet werden 3 Wenn diese ICs getestet werden m ssen erscheint die Meldung EXT auf dem LCD Display Diese be
29. e number of the IC you wish to test Pressing the MODE CLEAR key will clear the last digit from the display if a mistake is made Note The NUMERIC information only is entered leaving out the manufacturers prefixes and suffixes and IC family information As an example all the following TTL ICs should be entered as 7 4 0 0 on the keypad e g DM74LS00J N74LSOON N74S00N N7400N 74ALSOON SN74HCTOO A very small number of ICs have differing pin outs for different IC families in these cases the most popular pin out only is supported The CMOS 4000 series is also supported and the IC numbers for this family should all begin with 4 so that with for example Motorola ICs beginning MC14 the initial 1 should be omitted The same principles apply also to memory ICs which are mostly four digit numbers With interface ICs of the 8T series the T should be omitted A complete list of all ICs supported by the ChipMaster Compact is contained in the IC SUPPORT LIST at the end of this manual together with notes on any special requirements for certain ICs Note that if you have stored a user library using CompactLink an IC in the user library with the same number as one in the internal library will take precedence This allows a new test to be written for an existing IC Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 3 ChipMaster Compact Digital IC Tester If you wish both tests to be available use a different number for your u
30. ederzeit eine Selbstdiagnose durchf hren indem Sie den Selbstdiagnosemodus DIAGS mit Hilfe der MODE CLEAR Taste ausw hlen und dann TEST EXEC dr cken Wird ein Fehler entdeckt erscheint ein alphanumerischer Code auf dem Display der unseren Ingenieuren bei der Fehlersuche und Beseitigung helfen wird Sie sollten diesen Code aufschreiben und bei jeder Korrespondenz angeben die mit diesem Fehler des Ger tes zu tun hat Bevor Sie Ihren Vertreter im Falle eines Selbstdiagnosefehlers benachrichtigen pr fen Sie zun chst ob der Sockel zum Zeitpunkt des Tests komplett leer war 27 CompactLink Modus Der ChipMaster Compact Professionell besitzt eine RS232 Schnittstelle damit das Ger t mit einem PC ber einen COM Schnittstelle oder USB RS232 Adapter verbunden werden kann An Hand der von Ihrem Vertreter vorhandenen Software CompactLink k nnen Sie Ihre eigene IC Bibliothek vervalten Test Programme entwickeln und in die Bibliothek des Ger ts einf gen Sie k nnen auch mittels CompactLink die interne Software des Ger ts aktualisieren ohne dass das Geh use geoffnet werden muss Benutzen Sie die MODE CLEAR Taste um den Modus CMLINK auszuw hlen dann dr cken Sie die TEST EXEC Taste Best tigen Sie Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 16 ChipMaster Compact Digital IC Tester CompactLink Module mit der TEST EXEC Taste die Meldung Not Connected nicht verbunden erscheint auf dem Display Verbinde
31. eful when the IC type number is illegible or has been removed Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 6 ChipMaster Compact Digital IC Tester Use the MODE CLEAR key to choose SEARCH mode insert the unknown IC into the socket and press the TEST EXEC key You will be prompted to choose the number of pins of the IC you wish to identify use the MODE CLEAR key to select from 8 to 40 pins or QUIT to abandon this mode Press the TEST EXEC key again to start the SEARCH or to quit as required During the identification process the display will indicate the number of ICs identified IDENT and will show graphically how far through the library the SEARCH has progressed At the end of the SEARCH a list of all the similar ICs will be scrolled onto the display The list may be scrolled again by pressing the TEST EXEC key If the IC cannot be identified the message Not in Library will be displayed This means either that the IC is not in the library or it is non functional Note that if the Compact detects excessive supply current ICC or BAT warnings the IC will not be identified during the SEARCH but can still be tested in SINGLE mode If you have a user library present the search will extend to user ICs in that library also However CompactLink contains a facility for excluding ICs from the search if required 12 selftest mode This feature allows you to check the integrity of the unit including the pin drivers and
32. eneriert die notwendigen Eingangsignale f r das IC und vergleicht dann die Ausgangsignale mit den zu erwartenden Signalen Aus jeglicher Diskrepanz resultiert eine Fehlermeldung und die fehlerhaften Pins werden auf dem integrierten LCD Display angezeigt Weitere F higkeiten des Ger tes bestehen u a in Test Schleifen um IC Inspektion oder das Suchen von intermittierenden Fehlern zu vereinfachen Da der ChipMaster Compact ber ein reichhaltiges IC Verzeichnis verf gt ist eine Programmierung des Ger tes nicht erforderlich Er ist au erdem in der Lage unbekannte ICs mit Hilfe des Suchmodus zu erkennen diese Funktion werden viele Benutzer als extrem n tzlich empfinden Der ChipMaster Compact Professionell verf gt ber eine RS232 Schnittstelle damit das Ger t mit der PC basierten Software CompactLink verbunden werden kann Damit k nnen Sie Testprogramme f r unbekannte ICs entwickeln und zu dem ChipMaster Compact herunterladen um die Bibliothek umzur sten 16 Stromversorgung Der ChipMaster Compact wird mit vier AA Batterien oder unter Verwendung eines im hinteren Teil des Geh uses angeschlossenen Netzteils betrieben Zum Einlegen der Batterien entfernen Sie die Batterieklappe auf der Unterseite des Ger tes indem Sie die beiden Kreuzschlitzschrauben l sen Die Batterien m ssen richtig herum eingesetzt werden wie auf der Abbildung gezeigt die sich in dem Batteriefach befindet Falsch eingesetzte Batterien lassen das
33. ent verifiez que le socle soit vide pendant le diagnostique 41 CompactLink mode Le ChipMaster Compact Professionnel est quip d une interface RS 232 pour permettre une connection avec un PC munis d un port s rie COM ou en utilisant un converteur USB RS232 Le logiciel associ CompactLink est disponible en option et permet le contr le de la biblioth que le d veloppement et d boguage de tests ainsi que la mise a jour et transf re de la biblioth que USER Il est aussi possible d utiliser CompactLink pour mettre a jour le logiciel du ChipMaster Compact sans avoir a ouvrir le boitier ou retirer la m moire Pour acc der au mode CompactLink utilisez la touche MODE CLEAR jusqu l obtention du message CMLINK et appuyez sur TEST EXEC Appuyez sur TEST EXEC de nouveau pour confirmer l entr e dans le mode CompactLink Le dispositif affichera Not Connected Chargez le logiciel CompactLink sur votre PC branchez le cable s rie et suivez les instructions donn es dans le manuel CompactLink pour tablir la connection avec le ChipMaster Compact Pour plus d informations sur CompactLink r ferrez vous au manuel fournis ainsi qu a l aide active disponible dans le logiciel Veuillez noter que dans le mode CompactLink le mode d extinction automatique n est pas actif et le dispositif sera sous tension en permanence Nous recommendons utilisation d un liminateur de batterie pour conserver la dur e de vie des pile
34. gs indicate conditions that may result in an incorrect test result and are as follows D F result may be invalid because last self test failed BAT battery voltage too low during test ICC large current taken by IC under test Before discarding a failed IC check that the correct IC type number was entered and also check that the IC pins are clean and making good contact with the test socket Note that there is no way of stopping a test once it has commenced but see the description of loop functions later in this manual 9 testing further ICs After a test is completed the test result will be displayed To test another IC of the same type simply insert the next IC and press the TEST EXEC key again To test a different IC enter the new IC type Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 5 ChipMaster Compact Digital IC Tester number in the usual way noticing that pressing the first digit of the new number automatically clears the previous number from the display Remember that the MODE CLEAR key can be used if an error is made during the entry of the IC type number 10 continuous testing It is possible to test the same IC repeatedly to detect intermittent or temperature related faults or to rapidly test a batch of identical ICs There are three types of test loop modes Loop execute a test repeatedly regardless of the result P Loop execute a test repeatedly provided the result is PASS F Loop execute a
35. ie Nummer des ICs Diags f hrt die Selbstdiagnose durch CmLink Ferngesteuerter Modus f r CompactLink Software Sw Off Ger t auschalten 20 Eingabe der IC Nummern Dr cken Sie die MODE CLEAR Taste bis die gew nschte Testart angezeigt wird Geben Sie nun die Nummer des zu testenden ICs ein Sollten Sie einen Fehler bei der Eingabe machen wird die Anzeige durch Dr cken der MODE CLEAR Taste gel scht und Sie k nnen die Eingabe wiederholen Bitte beachten Sie Es wird nur die numerische Information eingegeben alle Angaben zum Hersteller oder zur IC Familie werden nicht ber cksichtigt So sollten zum Beispiel alle folgenden TTL ICs als 7 4 0 0 auf der Tastatur eingegeben werden z B DM74LS00J N74LSOON N74S00N N7400N 74ALSOON SN74HCTOO Einige wenige ICs haben Familienabh ngige Pinkonfigurationen in solchen F llen wird nur die h ufigste Pinkonfiguration unterst zt Die CMOS 4000 Familie wird auch unterst zt und die IC Nummern dieser Familie fangen alle mit 4 an So sollten Sie das erste 1 f r Motorola CMOS ICs die mit MC14 anfangen weglassen Ebenfalls muss das T von Interface ICs der 8T Familie weggelassen werden Eine komplette Liste von den unterst zten ICs wenn notwendig mit Anmerkungen wird am Ende dieser Anleitung angezeigt Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 11 ChipMaster Compact Digital IC Tester Wenn Sie eine Benutzer IC Bibliothek installier
36. ilement ainsi que la fonction du Cl Les erreurs qui peuvent tre affich es sont les suivantes LOW La sortie est LOW bas quand HIGH haut est anticip MID LOW La sortie est LOW mais pas un niveau logique valable HIGH La sortie est HIGH quand LOW est anticip MID HIGH La sortie est HIGH mais pas a un niveau logique valable LOAD OV entr e d sign e ne peut pas tre activ e HAUT LOAD 5 entr e d sign e ne peut pas tre activ e BAS Dans certains cas le message d erreur en d filement peux aussi contenir quelques messages WARNING Ces messages indiquent que certaines conditions peuvent rendre les r sultats peu fiables comme D F R sultat peut tre invalide d l chec du dernier test de d marrage Bat Tension des piles trop basse pendant le test ICC Courant trop important pour le CI sous test Avant de refuser un CI d fecteux v rifiez que le num ro appropri a t entr et v rifiez aussi que les broches du CI sont propres et font bon contact avec le socle Veuillez noter qu il n est pas possible d arr ter un test une fois qu il est commenc r ferrez vous a la section test en continu pour plus d informations Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 22 ChipMaster Compact Digital IC Tester 37 test de plusieurs CI D s que le test est termin les r sultats seront affich s Pour tester un autre CI du m me type il faut simplement ins rer le pr
37. in de v rifier leur fonctionnement logique en relation avec leurs tables de v rit ou de fonction Le ChipMaster Compact applique des signaux appropri s aux entr es du Cl et mesure les signaux de sortie a chaque tape En m me temps les signaux de sortie sont compar s avec les r sultats attendus N importe qu elle difference entre les deux r sultats donne l indication FAIL et les sorties d fectueuses sont indiqu es sur l cran LCD D autres fonctionalit s sont aussi disponibles comme des boucles de test qui peuvent tre utilis es pour des controles de r ception fournisseur d tecter des pannes intermittentes ou simplement pour tester en boucle n importe quel Cl soit pour l ducation soit pour la d monstration Le ChipMaster a aussi un mode SEARCH pour l identification des Cl inconnus Gr ce la biblioth que tendue du ChipMaster il n est pas n cesaire de programmer le produit en soi m me Seul le num ro du Cl doit tre entr Le ChipMaster Compact Professionnel est quip d une interface RS232 qui lui permet de se connecter un logiciel associ connu sous le nom de CompactLink install sur un PC CompactLink permet de d velopper des programmes de test pour les CI qui ne sont pas inclus dans la biblioth que Ces m mes programmes peuvent tre t l charg s dans la m moire du ChipMaster Compact et permettent donc d am liorer la biblioth que de Cl 30 alimentation continue DC Le
38. k manual instructions to connect to the ChipMaster Compact Professional For comprehensive instructions on using CompactLink please refer to the manual and built in help supplied with the software Note that in CompactLink mode including waiting for a connection the normal power down timeout is disabled and the unit will remain on for ever We recommend using a battery eliminator when using CompactLink mode to develop test programmes 14 specifications SPECIFICATIONS Batteries 4 X AA size DC input 6V 850mA max centre positive regulated Power consumption Power off 10uA max Standby 30mA Testing IC dependent Test thresholds internal library TTL low 0 5V max TTL switching 1 2V TTL high 2 4V min CMOS low 0 5V max CMOS switching 2 4V CMOS high 3 8V min Test thresholds user library Programmable OV to 5V using CompactLink RS 232 settings 38400 baud 8 data bits 1 stop bit no parity Dimensions 200mm X 100mm X 55mm approx Library ICs TTL CMOS VLSI Interface Memory User Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 8 ChipMaster Compact Digital IC Tester 15 Einf hrung deutsch Vielen Dank dass Sie sich f r den Kauf eines ABI ChipMaster Compact Professionell Digital IC Testers entschieden haben Die Hauptfunktion des ChipMaster Compact Professionell besteht darin ein digitales IC laut seiner Wahrheits bzw Funktionstabele auf sein korrektes Funktionieren zu testen Der ChipMaster Compact g
39. la touche MODE CLEAR Les modes sont les suivants Single un seul test sur le CI dans le socle Loop r pete un test en ignorant les r sultats P Loop r pete un test si le r sultat est PASS F Loop r pete un test si le r sultat est FAIL Search identifie le num ro du Cl dans le socle Diags ex cute le test de d marrage CmLink mode de connection pour CompactLink Sw Off teint le dispositif 34 introduction des num ros de Cl Appuyez sur la touche MODE CLEAR jusqu l obtention du mode d sir Introduisez le num ro du Cl que vous d sirez tester Si vous faites une erreur appuyez sur la touche MODE CLEAR pour annuler NB Il rest pas n cessaire de taper les pr fixes et suffixes du fabriquant seuls les num ros suffisent Par exemple les CI suivants doivent tre tap s comme 7 4 O O sur le clavier DM74LS00J N74LSOON N74S00N N7400N 74ALSOON SN74HCTOO Tr s peu de CI ont un brochage diff rent pour des familles diff rentes et dans ce cas seul le brochage le plus populaire est support La s rie CMOS 4000 est galement support et les num ros de Cl pour cette famille doivent tous commencer par 4 Par exemple avec le Cl Motorola commencant avec MC14 le 1 doit tre omis On retrouve le m me principe avec les CI de m moire qui ont en g n ral 4 chiffres Avec les interfaces de la s rie 8T le T doit tre omis Une liste compl te de tous les CI soutenus par le Chip
40. n Sie den ChipMaster mit dem PC mit einem RS232 Label und starten Sie the compactLink Software auf dem PC Folgen Sie dann den Anweisungen in den CompactLink Anleitungen um die Verbingund zu erstellen F r umfassende Gebrauchsanweisungen ber CompactLink wenden Sie sich an das CompactLink Benutzer Handbuch bzw die eingebaute Help Funktion Merken Sie Sich dass das automatische Ausschalten des unbenutzten Ger ts im CompactLink Modus ausser Betrieb gesetzt wird deswegen empfehlen wir dass Sie das Netzteil im compactLink Modus zu benutzen 28 Spezifikation SPEZIFIKATION Batterien 4X1 5V AA Netzteil 6V 850mA max mittig positiv stabilisiert Stromverbrauch Ausgeschaltet 10uA Testbereit 30mA Beim Testen IC abh ngig Logikschwellen interne Bibliothek TTL Low 0 5V max TTL Schaltpunkt 1 2V TTL High 2 4V min CMOS Low 0 5V max CMOS Schaltpunkt 2 4V CMOS High 3 8V min Logikschwellen Benutzer Bibliothek Programmierbar OV 5V mit CompactLink RS 232 Einstellungen 38400 baud 8 data bits 1 stop bit kein parity Abmessungen Circa 200mm X 100mm X 55mm Unterst tzte ICs TTL CMOS VLSI Interface Memory Benutzer Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 17 ChipMaster Compact Digital IC Tester 29 introduction fran ais Merci d avoir achet le ChipMaster Compact Professionnel IC Tester de ABI Electronics La fonction fondamentale du Chipmaster Compact Professionnel est de tester des Cl digitaux af
41. nd since no valid test Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 4 ChipMaster Compact Digital IC Tester is then possible the result will FAIL If the IC under test takes an excessive amount of current when power is applied a warning ICC will appear Press the TEST EXEC key to continue with the test or MODE CLEAR to abandon Depending on the condition of the batteries there may also be a BAT warning which indicates that the batteries are incapable of supplying the current required by the IC under test You can continue with the test by pressing the TEST EXEC key but the unit may malfunction because of a drop in battery voltage To avoid this change the batteries or use a battery eliminator Note that a faulty IC may demand more operating current and therefore will quickly drain the batteries In the case of a FAIL result the error conditions at all the non functional pins of the IC will be scrolled on the display and the IC function will be shown The various failure conditions that can be displayed are as follows LOW the output was LOW when HIGH was expected MID LOW the output was LOW but not a valid logic level HIGH the output was HIGH when LOW was expected MID HIGH the output was HIGH but not a valid logic level LOAD OV the input cannot be driven HIGH LOAD 5V the input cannot be driven LOW In some cases the scrolling test results may include one or more WARNING indications These warnin
42. nicht funktionierenden Pins des ICs auf dem Display gerollt und die IC Funktion wird angezeigt Die verschiedenen Logikfehler werden wie folgt angezeigt LOW Ausgang LOW obwohl HIGH erwartet wurde MID LOW Ausgang LOW aber ung ltiger Logik Pegel entdeckt HIGH Ausgang HIGH obwohl LOW erwartet wurde MID HIGH Ausgang HIGH aber ung ltiger Logik Pegel entdeckt LOAD 0V Eingang wurde nicht mit g ltigem HIGH getrieben LOAD 5V Eingang wurde nicht mit g ltigem LOW getrieben In manchen F llen k nnen die rollenden Testergebnisse eine oder mehrere Warnmeldungen enthalten Diese Warnungen weisen auf Bedingungen hin die ein falsches Testergebnis zur Folge haben k nnten Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 13 ChipMaster Compact Digital IC Tester D F das Ergebnis kann ung ltig sein da die letzte Selbstdiagnose fehlgeschlagen ist BAT die Batteriespannung war w hrend des Tests zu niedrig ICC das getestete IC hatte einen hohen Stromverbrauch Bevor Sie einen fehlerhaften IC aussortieren berpr fen Sie ob die korrekte IC Nummer eingegeben wurde und ob die Pins des ICs alle sauber sind und fest im Testsockel sitzen Beachten Sie dass ein begonnener Test nicht abgebrochen werden kann sehen Sie aber die Schleiftestfunktionen 23 Testen weiterer ICs Nachdem ein Test beendet ist wird das Ergebnis angezeigt Um ein anderes IC desselben Typs zu testen legen Sie dies einfach ein und dr cken
43. ochain CI et appuyer de nouveau sur la touche TEST EXEC Pour tester un Cl different il faut de nouveau entrer le num ro du CI en notant que en appuyant sur la premiere touche l ancien num ro sera effac Si vous faites un erreur veuillez appuyer sur la touche CLEAR 38 test en continu Il est possible de tester le m me Cl plusieurs reprises en boucle pour la d tection de pannes intermittentes ou pour des probl mes dus la temp rature Cela permet galement de tester rapidement un lot de Cl identiques Il y a trois types de test en boucle Loop ex cute un test plusieurs fois sans se soucier des r sultats P Loop ex cute un test plusieurs fois si le r sultat est PASS F Loop ex cute un test plusieurs fois si le r sultat est FAIL Le ChipMaster Compact peut etre configur pour un des modes en boucle en utilisant la touche MODE CLEAR Ins rez le CI et appuyez sur la toucheTEST EXEC pour commencer le test en continu Le r sultat de chaque test est affich en PASS ou FAIL Dans le mode LOOP cela veut dire qu un lot important de Cl identiques peut tre soumis un test en entrant simplement le num ro du CI Apr s avoir introduit le CI laissez suffisament de temps pour que le test se termine avant de mettre jour les r sultats Pour cela il faut tester le CI dans le mode normale pour d couvrir le temps aproximatif du test Notez qu avec cette technique un haut d bit de CI peut tre tester Pour
44. receivers power supplies and other internal hardware The test executes automatically at switch on but you can if you wish perform a self test at any time by selecting Self Test DIAGS mode using the MODE CLEAR key and pressing TEST EXEC If a fault is discovered a brief description will be displayed which will help our engineers to locate and rectify the fault This message should be noted and quoted in any correspondence relating to a unit fault Contact your distributor in the event of a self test fail but first of all ensure that the socket was empty when the diagnostics were run 13 CompactLink mode The ChipMaster Compact Professional is provided with an RS 232 interface to connect to a PC with a serial COM port or using a USB to RS 232 converter A companion software package CompactLink is available which provides library management test development and Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 7 ChipMaster Compact Digital IC Tester debugging and user library update facilities You can also use CompactLink to update the software of your ChipMaster Compact without replacing the internal memory or opening the case To enter CompactLink mode user the MODE CLEAR key to enter CMLINK mode then press TEST EXEC Press TEST EXEC again to confirm that you wish to enter CompactLink mode and the display will show Not Connected Run the CompactLink software on your PC connect the serial cable and follow the CompactLin
45. s Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 25 ChipMaster Compact Digital IC Tester 42 specifications SP CIFICATION Piles 4 X 1 5V AA LR6 CC entr e 6V 850mA max centr positif r gul Consommation d electricite tient 1OHA veille 30mA En test d pendant du Cl Seuils Logiques TTL Bas 0 5V max Biblioth que interne TTL switching 1 2V TTL Haut 2 4V min CMOS Bas 0 5V max CMOS switching 2 4V CMOS Haut 3 8V min Programmable OV 5V avec CompactLink Seuils Logiques Biblioth que USER RS 232 sp cifications 38400 baud 8 data bits 1 stop bit pas de parit Dimensions 200mm X 100mm X 55mm approx Biblioth que de Cl TTL CMOS VLSI Interface M moire User Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 26 ChipMaster Compact Digital IC Tester 43 IC support list IC Liste Liste des Cl soutenus 43 1 introduction Einf hrung introduction This section is a complete list of the ICs supported by the ChipMaster Compact If there are any special requirements necessary for a particular IC there will be a number in brackets referring to the notes at the end of this manual Always consult this list before testing an IC you have not tested before particularly when there is a note to refer to Please note that the latest version of the ChipMaster Compact Professional software is available on the ABI Website www abielectronics co uk Dieser Abschnitt beinhaltet eine vollst ndige
46. s the self test a pass result will be displayed on the screen Press a key to enter the main operating mode the display will be as follows NO MODE Single RDY When this initial display is obtained the ChipMaster Compact is ready for use If however the message SELF TEST FAIL is displayed along with a fault message this indicates that a self test diagnostic fault has been detected Any detected faults will be displayed one at a time Pressing the TEST EXEC key will then revert to the opening menu as above but of course operation of the unit will then be suspect Before contacting your distributor check that the test socket is completely empty Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 2 ChipMaster Compact Digital IC Tester 5 operating modes The ChipMaster Compact has a number of test modes that are selected using the MODE CLEAR key from the initial screen The test modes are as follows Single execute a single test on the IC in the socket Loop execute test repeatedly regardless of the result P Loop execute test repeatedly provided the result was PASS F Loop execute test repeatedly provided the result was FAIL Search identify the number of the IC in the socket Diags execute the diagnostic self test CmLink enter remote mode for CompactLink software Sw Off turn off the unit 6 entering test numbers Press the MODE CLEAR key until the desired test mode is displayed Enter th
47. ser test 7 testing the IC Insert the IC to be tested in the front of the 40 pin Zero Insertion Force socket with pin 1 towards the display as shown below Ensure that the operating lever on the socket is in the open i e up position before inserting the IC Close the socket by lowering the lever making sure that the IC is firmly seated in the socket and making good contact Press the TEST EXEC key to activate the test sequence for the IC If an invalid IC type number was entered or if the IC you have requested is not supported the message Unknown will be displayed Simply entering another IC type number will automatically clear this error message If a valid type number was entered the IC test will begin and the message BUSY will be displayed while the test proceeds Many of the tests however execute so quickly that this message is not noticeable 8 test results A pre determined sequence of signals is applied to the inputs of the IC and the IC outputs are monitored for the correct logic levels The unit uses TTL or CMOS logic thresholds depending on the selected IC when evaluating the response of the IC outputs If all the outputs respond correctly the result PASS will be displayed at the top right of the display A scrolling message will contain the IC function and power pin information If a short circuit between the power pins of the IC is detected a warning SHT will appear on the top right of the display a
48. t haben bitte merken Sie sich dass ein Benutzer IC mit der identischen Nummer zu einem IC in der eingebauten Bibilothek bevorzugt wird Dies erlaubt dass ein neuer Test f r ein existierendes IC geschrieben werden kann Wenn Sie beide Tests benutzen wollen benutzen Sie eine andere Nummer f r Ihren Benutzer IC Test 21 Testen des ICs Setzen Sie das zu testende IC in den vorderen Teil des Sockels mit Pin 1 zu dem LCD Display wie im unteren Diagramm dargestellt Bevor Sie das IC einlegen stellen Sie sicher dass sich der Betriebshebel in der ge ffneten Position d h oben befindet Schlie en Sie den Sockel indem Sie den Hebel nach unten dr cken Pr fen Sie vorher noch dass das IC fest auf dem Sockel sitzt und guten Kontakt hat Dr cken Sie die TEST EXEC Taste um die Testsequenz f r das IC zu aktivieren Wenn eine falsche IC Nummer eingegeben wurde oder wenn das von Ihnen gew nschte IC nicht unterst tzt wird erscheint die Nachricht Unknown auf dem Display Die Eingabe einer anderen IC Nummer wird diese Anzeige automatisch l schen Wurde eine g ltige Nummer eingegeben beginnt der Test und die Nachricht BUSY wird angezeigt w hrend der Test l uft Allerdings laufen viele Tests so schnell ab das diese Nachricht nicht erkennbar wird 22 Testergebnisse Eine vorbestimmte Folge von Signalen wird an den Eing ngen des ICs angewendet und die Ausg nge werden auf den richtigen Logikpegeln berwacht Das Ger t
49. une mauvaise s lection entrainera des d gats irr parables et annulera la garantie 32 mise sous tension Pour allumer le dispositif appuyez sur la touche ON Afin de pr server les piles le dispositif s amp teindra s il n est pas utilis pendant 3 minutes ou quand Sw Off est s lectionn dans le menu principal Lorsque le dispositif s allume il xecute un test automatique de d marrage Pour cette raison avant d allumer le dispositif v rifiez que le socle soit vide afin d viter les interf rences Si il n y a aucun probleme avec le dispositif l cran affichera le message suivant NO MODE Single RDY Quand le message ci dessus s affiche le ChipMaster Compact est pr t l utilisation Si le dispositif affiche le message SELF TEST FAIL il y a une erreur dans le test de d marrage et le dispositif affichera un code indiquant le type de d faut Chaque probl me d tect sera affich un la fois sur l cran Copyright 1992 2007 ABI Electronics Limited Page 19 ChipMaster Compact Digital IC Tester Il est possible de retourner au menu initial en appuyant sur la touche TEST EXEC cependant les r sultats obtenus par le dispositif seront peu fiables Avant de vous mettre en contact avec votre distributeur veuillez v rifier que le socle soit totalement vide 33 modes d operation Le ChipMaster compact dispose de plusieurs modes d op ration qui peuvent etre s lectionn s en utilisant
50. wird besteht eine IC abh ngige Verz gerung bis das Display aktualisiert wird Im Zweifel kann der Test einmal im SINGLE Modus durchgef hrt werden um die Testzeit ungef hr festzustellen Sie werden bemerken dass in diesem Modus eine h here Durchgangsleistung erreicht werden kann Um eine Testschleife anzuhalten dr cken Sie die CLEAR Taste Der bereits laufende Test wird noch beendet bevor das Ger t reagiert Normalerweise ist das nicht zu bemerken doch wenn ein Test l nger andauert kommt es zu einer Verz gerung der Reaktion auf die CLEAR Taste Bitte beachten Sie Das Testen von ICs mit hohem Stromverbrauch wird die Batterien schnell verbrauchen daher raten wir zum Gebrauch eines externen Netzteils wenn Sie eine Testschleife starten wollen Wenn die Warnung ICC erscheint stellt sich das Ger t automatisch auf den SINGLE Modus um um eine komplette Entladung der Batterien zu vermeiden 25 Suchmodus Dieser Modus erlaubt es die Typenummer eines unbekannten ICs festzustellen vorausgesetzt dass das IC fehlerfrei ist und sich in dem Verzeichnis des Ger tes befindet Diese Funktion ist sehr n tzlich wenn die IC Nummer unleserlich ist oder entfernt wurde Benutzen Sie die MODE CLEAR Taste um den Modus SEARCH auszuw hlen Legen Sie das unbekannte IC ein und dr cken Sie die TEST EXEC Taste Sie werden nun aufgefordert die Anzahl der Pins des zu identifizierenden ICs zu w hlen benutzen Sie die MODE CLEAR T
Download Pdf Manuals
Related Search